[SI-LIST] Re: si-list Digest V19 #145

  • From: steve@xxxxxxxxxxxx
  • To: si-list digest users <ecartis@xxxxxxxxxxxxx>, si-list@xxxxxxxxxxxxx
  • Date: Tue, 2 Jul 2019 13:17:33 +0000 (UTC)

We've put everything you need to know about output impedance measurement on one 
web page here 



https://www.picotest.com/measurements/2-port.html




Also look for my upcoming Signal Integrity Journal webinar about measuring and 
interpreting impedance data. 




steve




Steven M. Sandler


Managing Director


www.picotest.com


(480) 375-0075









On Mon, Jul 1, 2019 at 10:08 PM -0700, "FreeLists Mailing List Manager" 
<ecartis@xxxxxxxxxxxxx> wrote:










si-list Digest  Mon, 01 Jul 2019        Volume: 19  Issue: 145

In This Issue:
        #1:     From: "Madhu KR (ERS-ESG), HCLTech" 
                Subject: [SI-LIST] LPDDR4 _CE inclusion in simulation
        #2:     From: agathon 
                Subject: [SI-LIST] VRM (smps) Zout vs. frequency measurement: 
How To?
        #3:     From: Binayak Shrestha 
                Subject: [SI-LIST] Re: VRM (smps) Zout vs. frequency 
measurement: How
        #4:     From: "Istvan Novak"  (Redacted sender
                Subject: [SI-LIST] Re: VRM (smps) Zout vs. frequency 
measurement: How

----------------------------------------------------------------------

Msg: #1 in digest
From: "Madhu KR (ERS-ESG), HCLTech" 
Subject: [SI-LIST] LPDDR4 _CE inclusion in simulation
Date: Mon, 1 Jul 2019 10:38:26 +0000

Hi All
With the LPDDR4
Is CE the signal used for any ACC Training?
(I read through the JEDEC spec where that there is only mention of using CE 
when writing trained values into Mode registers )
Since the CE is always high, should it be a part of  Simulation while 
simulating in Hyperlynx
Or can that be left out from ACC bunch
If you include the VREF level is pushed up and I am seeing violation in ACC.
With the same setup if it is omitted no violations observed In Eye Mask.

Thanks
Madhu
::DISCLAIMER::
--------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------
The contents of this e-mail and any attachment(s) are confidential and intended 
for the named recipient(s) only. E-mail transmission is not guaranteed to be 
secure or error-free as information could be intercepted, corrupted, lost, 
destroyed, arrive late or incomplete, or may contain viruses in transmission. 
The e mail and its contents (with or without referred errors) shall therefore 
not attach any liability on the originator or HCL or its affiliates. Views or 
opinions, if any, presented in this email are solely those of the author and 
may not necessarily reflect the views or opinions of HCL or its affiliates. Any 
form of reproduction, dissemination, copying, disclosure, modification, 
distribution and / or publication of this message without the prior written 
consent of authorized representative of HCL is strictly prohibited. If you have 
received this email in error please delete it and notify the sender 
immediately. Before opening any email and/or attachments, please check them for
  viruses and other defects.
--------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------


------------------------------

Msg: #2 in digest
From: agathon 
Date: Mon, 1 Jul 2019 13:53:53 -0400
Subject: [SI-LIST] VRM (smps) Zout vs. frequency measurement: How To?

Small-signal Zout measurement...
This is the primary f-domain characterization of a SMPS.
What is the actual lab setup for this?
(I don't need brand/model instrument recommendations, but separately ok).

I assume the answer is something like ...
the feedback pin node has freq.-swept noise coupled into it and output V,I
are measured (with some nominal dc load).  No?

Regards and Thanks.
----------------------------



------------------------------

Msg: #3 in digest
From: Binayak Shrestha 
Date: Tue, 2 Jul 2019 01:31:53 +0530
Subject: [SI-LIST] Re: VRM (smps) Zout vs. frequency measurement: How To?

Agathon,
You can find numerous articles from steve sandler on this topic.
They will help you to accurately measure the output impedance.

Binayak.
Warm Regards,

Binayak Shrestha
Senior Research Engineer,
C-DOT Centre for Development of Telematics


On Mon, Jul 1, 2019 at 11:24 PM agathon  wrote:

Small-signal Zout measurement...
This is the primary f-domain characterization of a SMPS.
What is the actual lab setup for this?
(I don't need brand/model instrument recommendations, but separately ok).

I assume the answer is something like ...
the feedback pin node has freq.-swept noise coupled into it and output V,I
are measured (with some nominal dc load).  No?

Regards and Thanks.
----------------------------


------------------------------------------------------------------
To unsubscribe from si-list:
si-list-request@xxxxxxxxxxxxx with 'unsubscribe' in the Subject field

or to administer your membership from a web page, go to:
//www.freelists.org/webpage/si-list

For help:
si-list-request@xxxxxxxxxxxxx with 'help' in the Subject field


List forum  is accessible at:
               http://tech.groups.yahoo.com/group/si-list

List archives are viewable at:
                //www.freelists.org/archives/si-list

Old (prior to June 6, 2001) list archives are viewable at:
                http://www.qsl.net/wb6tpu






------------------------------

Msg: #4 in digest
Subject: [SI-LIST] Re: VRM (smps) Zout vs. frequency measurement: How To?
From: "Istvan Novak"  (Redacted sender
Date: Mon, 1 Jul 2019 23:06:59 -0400

Small signal output impedance, assuming linear and time invariant DUT, 
can be measured by applying a stimulus across the converter output and 
measuring the response at the same points.?? The stimulus and measurement 
can be in the frequency domain by using a Vector Network Analyzer or 
Frequency Response Analyzer or it can be done in the time domain by 
applying a step-current stimulus and measuring the response with an 
oscilloscope.?? in this latter case the time-domain response has to be 
transformed into the frequency domain to get impedance versus 
frequency.?? You can find measured illustrations for both in

http://www.electrical-integrity.com/Paper_download_files/DC18_PAPER_Track11_HowSpatialVariationofVoltage_Miranda_updated__.pdf

You can find very good accessories for the measurements on the Picotest 
website: https://www.picotest.com/

Regards,

Istvan Novak

Samtec


On 7/1/2019 1:53 PM, agathon wrote:
Small-signal Zout measurement...
This is the primary f-domain characterization of a SMPS.
What is the actual lab setup for this?
(I don't need brand/model instrument recommendations, but separately ok).

I assume the answer is something like ...
the feedback pin node has freq.-swept noise coupled into it and output V,I
are measured (with some nominal dc load).  No?

Regards and Thanks.
----------------------------



------------------------------

End of si-list Digest V19 #145
******************************








------------------------------------------------------------------
To unsubscribe from si-list:
si-list-request@xxxxxxxxxxxxx with 'unsubscribe' in the Subject field

or to administer your membership from a web page, go to:
//www.freelists.org/webpage/si-list

For help:
si-list-request@xxxxxxxxxxxxx with 'help' in the Subject field


List forum  is accessible at:
               http://tech.groups.yahoo.com/group/si-list

List archives are viewable at:     
                //www.freelists.org/archives/si-list
 
Old (prior to June 6, 2001) list archives are viewable at:
                http://www.qsl.net/wb6tpu
  

Other related posts:

  • » [SI-LIST] Re: si-list Digest V19 #145 - steve