[ibis-macro] What I believe Radek and I agreed to during the IBIS-ATM meeting

  • From: Walter Katz <wkatz@xxxxxxxxxx>
  • To: "IBIS-ATM" <ibis-macro@xxxxxxxxxxxxx>
  • Date: Tue, 21 Jun 2016 18:13:18 -0400 (EDT)

All,

 

If any one  or more than one of the Model subparameters [Pulldown
Reference], [GND Clamp Reference] , [Pullup Reference] , [POWER Clamp
Reference] and [External Reference] are 0.0V, their corresponding model
terminals Pulldown_ref, Gnd_clamp_ref, Pullup_ref, Power_clamp_ref and
Ext_ref respectively are at the same node as the test fixture reference
when the Device is Under Test. Therefore, the nodes at these terminals
should be connected together during simulation, and they should be used as
the reference terminal for measurements of the other terminals of the
device when used in action.

If none of the Model subparameters [Pulldown Reference], [GND Clamp
Reference] , [Pullup Reference] , [POWER Clamp Reference] and [External
Reference] are 0.0V, then there must be something in the chip that is
connected to a Pin that is connected to the test fixture reference node
(or simulator reference node 0 when doing SPICE to IBIS. This is not
necessarily one of the terminals Pulldown_ref, Gnd_clamp_ref, Pullup_ref,
Power_clamp_ref and Ext_ref of a legacy model. It could be A_gnd of an
[External Model].

Therefore, if a [Model] does not have a [Pulldown Reference], [GND Clamp
Reference] , [Pullup Reference] , [POWER Clamp Reference] or [External
Reference] that is 0.0V, the model maker can assign to each [Pin] that
uses this [Model] a bus_label on a [Pin] that has Model_name POWER or GND
as the [Pin] in the component that should be connected to the test fixture
reference node when DUT, and should be the reference node for all voltage
measurements made at this I/O buffer.

 

Walter

 

 

Walter Katz

 <mailto:wkatz@xxxxxxxxxx> wkatz@xxxxxxxxxx

Phone 303.449-2308

Mobile 303.335-6156

Other related posts: