[fep] Re: [fep] relatorio.pdf
- From: ironeddie@xxxxxxxxxxxxxx
- To: fep@xxxxxxxxxxxxx
- Date: Thu, 4 Dec 2003 21:36:09 -0300
Procurei novamente mas não achei + referencias bibliograficas que consultei
e inclui minha assinatura no fim do texto se era isso o q faltava.
Daniel.
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Existem várias causas de ruptura em dielétricos sólidos e varias teorias
relatando essas causas. Muitas vezes a ruptura é causada por efeitos externos,
como exposição a altas temperaturas, produtos químicos e choques mecânicos.
Isto pode produzir carbonização, quebra e degradação física e química do
dielétrico.
Porém para esta experiência, as quebras são provocadas intencionalmente pelos
efeitos das tensões elétricas na estrutura física e molecular dos isolantes
para descobrirmos a tensão de ruptura do capacitor.
Tensão de ruptura é o limite de tensão que um capacitor suporta, dada uma
tensão constante aplicada no capacitor, ou também pode ser definida como a
tensão que causa uma transição de um isolante para um condutor. Esta transição
é chamada de quebra dielétrica do material e é um efeito irreversível que
permanentemente danifica o elemento. Dentro do capacitor, altas tensões
elétricas separam elétrons dos átomos e estes se tornam carregadores de carga,
produzindo corrente elétrica. Este processo é conhecido como emissão de ?campo
interno?. Quando a tensão é aumentada, mais e mais elétrons são soltos até que
a emissão de elétrons chega a um valor crítico, aumentando a corrente a grandes
valores. Esta corrente é chamada de ?densidade de corrente crítica?, quando há
um aumento grande na emissão, que culminará com uma avalanche de elétrons.
Finalmente o processo resultará na ruptura do dielétrico. Algumas vezes, a
quebra dielétrica é seguida imediatamente seguida pela condução de uma corrente
elétrica (de frações de Ampere a milhões de Amperes dependendo das
circunstâncias) através da nova região condutora formada. Se a condução ocorre
em um gás quente ionizado (plasma) então esta pós-quebra é chamada de arco
corrente ou ?spark?
Por:
Daniel Félix Gazarini
Bibliografia: "Dielectric Breakdown and Arcing", ARRL Handbook, 1995, pg 10.14
?Dieletric Breakdown of Solids?, Stanley Whitehead, 1951
?Mecanismos de Ruptura Elétrica em Dielétricos?, Thiago Ramos
Pereira
?Capacitor M.O.S (Metal-Oxido-Semicondutor)?, ?????? O autor não
sei quem eh, ver site 3
Sites: http://www.eecs.wsu.edu/~pedrow/HV_Engineering/lecture/intro/
http://www.realhamradio.com/High_Voltage_Breakdown_Tester.htm
http://fisicanet.terra.com.br/eletronica/CAPACITOR%20MOS.pdf
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